捷欧路JEOL JEM-2800 高通量电子显微镜
名称：其他仪器与工具
品牌：
型号：
简介：捷欧路JEOL JEM-2800 高通量电子显微镜是一台性能极高，能兼顾高分辨率观察和快速分析的TEM/STEM装置。 捷欧路JEOL JEM-2800 高通量电子显微镜采用新设计的电子光学系统，能兼顾高分辨率观察和高通量分析，观察模式如T...
申请服务
- 产品介绍
捷欧路JEOL JEM-2800 高通量电子显微镜是一台性能极高，能兼顾高分辨率观察和快速分析的TEM/STEM装置。
捷欧路JEOL JEM-2800 高通量电子显微镜采用新设计的电子光学系统，能兼顾高分辨率观察和高通量分析，观察模式如TEM（透射像）、STEM（扫描透射像）、SEM（二次电子像）及ED（电子衍射）模式可在瞬间相互切换，还能在明亮的房间观察图像。此外，扫描图像模式可以同时观察STEM-BF像、STEM-DF像和二次电子像。利用这些功能，操作者可根据目的，利用感兴趣的观察模式快速获得从大范围的样品结构到亚纳米的晶格像。捷欧路JEOL JEM-2800 高通量电子显微镜具有电镜观测所需要操作的各种自动功能（自动衬度/亮度调整、样品高度（Z）调整、自动晶带轴调整、自动聚焦及自动消象散），这些功能可以使操作者不受熟练程度影响，获取重现性好的数据。 此外，由于标准配置了涡轮分子泵，换样时间缩短为30秒钟后。为使初学者也能够放心地正确操作，还标准配置JEM-Navi™用户导航系统，提供获取数据所需要的操作指南和视频。
捷欧路JEOL JEM-2800 高通量电子显微镜不仅可以进行高分辨的观察，还能进行高通量的元素分析，由于采用日本电子制造的100mm²大面积硅漂移检测器（Silicon Drift Detector：SDD）*1，能够获得0.95sr 的大固体角，可以进行高速高效的X射线分析并且不牺牲电子显微镜的功能。此外，为了能在短时间内获得准确的分析结果，JEM-2800能根据样品及分析方法选择最佳的束班直径。
捷欧路JEOL JEM-2800 高通量电子显微镜采用总体数据管理系统，能够迅速生成分析结果报告。JEM-2800获取的图像和分析数据通过LAN（局域网）会自动传送到数据集成管理软件（Image Center*2）。此外，从PC客户终端访问，可以高效率执行测长（使用Image Excite*2）及粒径分析（使用Region Gauge Center*2），通过数据整理软件（Image Import※2）能简便地生成报告书。
| 分辨率 | |
| 二次电子像 |
≦0.5nm（加速电压200kV） ≦1.0nm（加速电压100kV） |
| 扫描透射像 | 0.16nm（加速电压200kV） |
| 透射像（晶格分辨率） |
0.1nm（加速电压200kV） 0.2nm（加速电压100kV） |
| 倍率（24英寸宽屏液晶显示器） | |
| 二次电子像 | X100～X150,000,000 |
| 扫描透射像 | X100～X150,000,000 |
| 透射像 | X500～X20,000,000 |
| 电子枪 | |
| 电子枪 | 肖特基场发射电子枪 |
| 加速电压 | 200kV、100kV |
| [样品系统] | |
| 样品台 | 全对中侧插式测角样品台 |
| 样品尺寸 | 3mmΦ |
| 最大倾斜角 | X轴：±25° Y轴：±30°使用（双倾样品杆时） |
| 移动范围 | X,Y: ±1mm Z: ±0.2mm（马达驱动／压电驱动） |
| [选配件] | |
|
能谱仪（EDS） 电子能量损失谱仪（EELS） CCD数码相机系统 TEM/STEM三维断层扫描系统 |
|
最新产品
相关产品
