布鲁克Bruker M2 BLIZZARD X射线荧光光谱仪
名称：光谱仪
品牌：
型号：
简介：布鲁克Bruker M2 BLIZZARD X射线荧光光谱仪是布鲁克公司最新推出的一款微区X射线荧光光谱仪，依据ASTMB568和DIN/ISO 3497，对材料成分和多层涂层厚度进行无损分析。布鲁克Bruker M2 BLIZZARD X...
申请服务
- 产品介绍
布鲁克Bruker M2 BLIZZARD X射线荧光光谱仪是布鲁克公司最新推出的一款微区X射线荧光光谱仪，依据ASTMB568和DIN/ISO 3497，对材料成分和多层涂层厚度进行无损分析。布鲁克Bruker M2 BLIZZARD X射线荧光光谱仪采用开槽设计，非常适用于扁平形状和尺寸过大的样品，例如大型印刷电路板。布鲁克Bruker M2 BLIZZARD X射线荧光光谱仪采用全新的、世界领先的XSpect Pro软件进行控制。
PCB分析的理想解决方案。
主要特性：开槽构型，带可伸长的“超大尺寸”样品台；可以调节槽缝间隙（10或20毫米）；设有大型、耐用的样品托盘，用于样品定位；全新优化XSpect Pro操作软件；最先进的XData软件用于应用程序，标准样品与数据库管理；可自定义设置用户界面和测试结果界面；具备波谱自动保存功能，用于测量后结果的再处理以及存档；用户设定公差，可以方便地判定“合格/不合格”；“峰值查找器”，用于定性分析未知样品；软件含有测试报告模板以供客户编辑使用；配置工业强度的脚踏开关，用于“开始/停止”测量（可选项）；可完全设置SPC软件，配合客户工艺需求（可选项）；仪器设计简洁坚固，只需一条USB电缆与PC连接。
以下是艾克赛普为您介绍布鲁克Bruker M2 BLIZZARD X射线荧光光谱仪的技术参数，如有相关问题，请联系长沙艾克赛普仪器仪表公司www.cafa100.cn，联系电话：0731-84284278 84284378。
技术参数：M2 BLIZZARD 的两种探测器选项?？裳∮帽壤剖鳎≒C）或 高分辨率硅漂移探测器（SDD）。激发：微焦点，高性能，带侧窗，钨靶。高电压：50 kV，50W。探测器：大面积正比计数器，感应面积1100mm，能量分辨率<950eV（Mn-K）。选配探测器：高性能Peltier冷却XFlash硅漂移探测器，感应面积30mm2，能量分辨率<150eV，（Mn-Ka）。光斑尺寸：固定或4个自由切换，?0.1到1.5mm；其他准直器：例如槽式。样品视图：高分辨率彩色摄像系统，放大倍数~30倍。样品台：手动塑料样品托盘，Z轴自动聚焦，行程:30mm。定量分析：总体分析：基于标样的经验系数法模式，无标样的FP法（基本参数法）模式；镀层分析：FP-基本参数法模式。供电：110/230 VAC，50/60 Hz，最大功率150W。尺寸（宽x深x高）为1055x688x430mm。重量75kg。
如果你需要布鲁克Bruker M2 BLIZZARD X射线荧光光谱仪及布鲁克品牌仪器、或者其他品牌仪器，均可联络我司销售部门：0731-84284278 84284378。
