布鲁克 SiBrickScan (SBS) 硅棒分析仪
名称：光谱仪
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简介：SiBrickScan（SBS）是一款专门用于定量分析完整硅锭中的间隙氧，生成沿硅锭纵轴的浓度分布曲线的在线系统。优势是不必切割晶圆或测试样品的情况下获取这类信息，可显著节约成本。 通过获取有价值的信息来检查和提高产品质量了解硅锭的氧梯度能...
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- 产品介绍
SiBrickScan（SBS）是一款专门用于定量分析完整硅锭中的间隙氧，生成沿硅锭纵轴的浓度分布曲线的在线系统。优势是不必切割晶圆或测试样品的情况下获取这类信息，可显著节约成本。
通过获取有价值的信息来检查和提高产品质量
了解硅锭的氧梯度能得出重要的结论，从而控制和优化硅结晶过程，或识别劣质原料批次。因此，SBS将通过优化产品质量和减缺陷晶圆的数量来节约成本。对锭进行随机抽样也大大减少样品制备工作，并能提前提供相关信息。
先进的FTIR光谱法带来高灵敏度
尽管通过FTIR光谱法（ASTM/SEMI 1188）对间隙氧进行定量分析是一个众所周知的重要分析方法，但它却只能限制在小毫米量程的薄硅样品范围内。SiBrickScan（SBS）巧妙地利用了相关的红外泛频吸收带，并与先进可靠的布鲁克FTIR技术相结合，打破了这个局限性，它是首个商用的完整硅锭中氧梯度专用分析系统，无需进行耗时且破坏性薄样品制备，就能准确测定沿主轴上的硅锭氧梯度。
无需制备薄样品即可进行间隙氧定量分析
SiBrickScan 能够对 500 mm 直径硅锭的间隙氧进行分析。从中获得的重要信息优化结晶过程，并在切割之前，对单个锭进行定量分析。
与根据ASTM/SEMI 1188相比结果完全一致
SBS的氧含量评估与根据 ASTM/SEMI 1188 进行定量结果完全一致。因此可以实现高精度的间隙氧含量评估。
SBS 可实现高检测灵敏度
SBS可达到< 2ppma (< 1017/cm3) 的检测极限，具体视样品的形状和性质（如电阻）而定。
适用于不同硅锭类型的专用SBS版本
SBS可用于标准的多晶或单晶方形PV锭（横截面约为156 x 156 mm2）以及圆柱形硅锭，包括直径在150毫米（6英寸）或200毫米（8英寸）左右。如有需求，我们也可提供适用于其他直径和形状的系统。
稳定的设计且满足工业兼容性
稳定且精确的线性驱动能够自动控制锭的测量位置：沿锭轴可达到12mm左右的间距，视配置和锭类型具体情况而定。加之安全可靠的互锁机制，避免了操作人员触碰活动部件的风险。
直观易用的软件界面
SiBrickScan (SBS) 具有针对工业环境进行优化的专用的直观式图像用户界面。即便是普通工人，也能在数分钟内学会使用其标准操作程序：仅需加载硅锭，选择目标分析方法，然后启动测量即可。随后，包括数据评估在内的测量过程将自动运行。
创新的高灵敏度光路以及内置的参考样品
独具创新的红外光路确保最佳测量灵敏度。仪器内置高质量的参考样品，参考测量可自动完成。
检测器可由客户选配
SBS 亦可配备斯特林制冷检测器，无需液氮即可运行。用户也可选购液氮冷却检测器，它包括一个液氮自动补充装置。
