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    DUV/VIS/NIR光谱型椭偏仪SE850DUV

    名称：物性分析测试仪器

    品牌：

    型号：

    简介：简单信息： 深紫外主要用于研究超薄膜、表面粗糙度，并可研究温度、应力、张力、掺杂、组份、晶态等对材料禁带宽度的影响；深紫外也可研究AlGaN, AlN等宽禁带材料，测量膜厚0-10nm?？杉饪刹饬空凵渎侍荻?。近红外使用FTIR，测量时间短...

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    • 产品介绍

    简单信息： 深紫外主要用于研究超薄膜、表面粗糙度，并可研究温度、应力、张力、掺杂、组份、晶态等对材料禁带宽度的影响；深紫外也可研究AlGaN, AlN等宽禁带材料，测量膜厚0-10nm?？杉饪刹饬空凵渎侍荻?。近红外使用FTIR，测量时间短（全光谱、多角度测量可在10分钟内完成）.

    SE850DUV

     
    商品名称： DUV/VIS/NIR光谱型椭偏仪
    商品型号： SE850DUV
     

    DUV/VIS/NIR光谱型椭偏仪SE800DUV

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