牛津仪器 电子背散射衍射（EBSD）探测器Symmetry S2
名称：物性分析测试仪器
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简介：牛津仪器 电子背散射衍射（EBSD）探测器Symmetry S2采用专门定制的CMOS传感器和光纤板光学系统，集高速、高灵敏度和高衍射花样质量于一体的强大组合。Symmetry S2与AZtec软件相结合，为所有材料和所有测量提供优越的性能...
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- 产品介绍
牛津仪器 电子背散射衍射（EBSD）探测器Symmetry S2采用专门定制的CMOS传感器和光纤板光学系统，集高速、高灵敏度和高衍射花样质量于一体的强大组合。Symmetry S2与AZtec软件相结合，为所有材料和所有测量提供优越的性能。Symmetry S2的最高分析速度超过4500 pps，可在几秒钟内实现织构和晶粒度表征，而这是在不需要高束流或牺牲花样分辨率的条件下实现的。这意味着，即使对难做样品，如多相轻合金或变形钢，也可以实现高速及高质量的分析。
此外，Symmetry S2可以采集无畸变、百万像素分辨率的EBSD花样，用于精细的应变和相分析。软件控制探头倾转（自动动态校准）和接近报警等创新功能，使Symmetry S2成为一款适合所有应用的探测器。
当无需在速度和精度间做选择时，全能型Symmetry S2可以轻松满足所有应用需要。
牛津仪器 电子背散射衍射（EBSD）探测器Symmetry S2特点
Symmetry S2探测器性能出色，使用方便，是所有EBSD应用的理想探测器：
- 保证标定速度 > 4500点/秒（pps）
- 光纤板光学系统带来优异的灵敏度
- 高灵敏度 > 800 pps/nA
- 最快速度时花样分辨率为156 x 88 像素
- 百万像素全分辨率（1244 x 1024）花样——理想的高角度分辨率(HR)-EBSD应变分析
- 亚像素畸变，保证角度精度优于0.05°
- 软件控制倾转接口，且自动校准——为所有大小的样品和几何设置提供理想的定位和标定
- 接近报警——提前探测可能发生的碰撞，并自动移动探测器至安全位置
- 五个集成的前散射探测器（FSD，选配）, 提供全彩色通道衬度图像和原子序数衬度图像
- 波纹管SEM接口，保持显微镜真空的完整性
- 简单直观的探测器设置，确保每次都能获得优异的结果
牛津仪器 电子背散射衍射（EBSD）探测器Symmetry S2应用
Symmetry S2集极速、灵敏度和多功能于一体，是一款能够覆盖所有应用领域的全能型EBSD探测器。这包括：
- 标准金属和合金样品的常规分析
- 深入检查应变和变形
- 复杂或束流敏感样品的有效表征
- 优化大样品测量
- 纳米晶材料的透射菊池衍射（TKD）分析
材料性能的快速质量控制
- Symmetry S2的最大分析速度 >4500 pps，可在若干秒钟内测量样品关键性能
- 依据ASTM E2627标准分析双相不锈钢的晶粒度，晶粒数量 >2000个，时间<80秒。
- 同样，织构和相分数的快速表征使得Symmetry S2非常适合于质量控制和高产量应用
- 仅使用中等束流（4 nA）即可对各种材料完成高速分析
敏感样品的高速分析
- Symmetry S2探测器内独特的光纤板光学系统提供了优异的灵敏度，不仅确保来自束流敏感材料的出色数据，而且对所有样品类型都有性能优势
- 对石英（SiO2）矿物样品，仅使用中等束流以1900 pps的速度在12分钟内完成准确相分析
- Symmetry S2的灵敏度确保您可以在所有应用中利用探测器的高速度，短时间内完成大量样品的检测
应变样品的详细分析
- 为了有效地表征应变，具有百万像素分辨率和最小畸变的探测器至关重要
- Symmetry S2是一款能满足这些标准的探测器——全1244 x 1024像素衍射花样是高角度分辨率（HR）EBSD的理想选择，每个探测器都能保证亚像素畸变
- 本例显示了高质量的EBSD花样与AZtec的高精度标定模式如何描述应变镍样品中的位错胞
分析任意大小的样品
- 使用传统EBSD探测器很难分析大样品，因为它们需要在SEM的长工作距离（WD）下进行分析，这会损害标准EBSD几何位置
- Symmetry S2有软件控制倾斜，可为每种样品类型定位于其理想的几何位置，从TEM薄片到厘米尺度样品（如原位测试样品或地质薄片）
- 该面分布图显示了来自大型力学测试的Ti64合金样品的EBSD数据，晶粒取向数据用于计算加载方向的杨氏模量
电子背散射衍射（EBSD）是一种基于扫描电子显微镜（SEM)），提供样品显微结构晶体学信息的技术。在EBSD中，电子束与倾斜的晶态样品相互作用，形成衍射花样。衍射花样可以通过荧光屏探测到，它具有所产生处样品的晶体结构和取向特征。因此，衍射花样可用来确定晶体结构及取向、区分晶体上不同的相、表征晶界、和提供有关局部结晶完整性的信息。
EBSD已成为SEM中的一个出色的附件，常用来提供晶体学信息。EBSD广泛地应用于许多不同的领域，以帮助材料表征，如下表所示。
AZtec EBSD系统结合了EBSD（ Symmetry ）的速度和灵敏度以及 AZtecHKL软件出色的分析性能，为电子背散射衍射（EBSD）和透射菊池衍射（TKD）分析提供了一种功能强大、用途广泛的工具。
| 行业 | 材料 | 典型的EBSD测量 |
| 金属研究和加工 | 金属，合金 | 晶粒尺寸 |
| 航天 | 金属间化合物 | 晶界表征 |
| 汽车 | 夹杂物/沉淀物/第二相 | 体织构 |
| 核能 | 陶瓷 | 局部织构 |
| 微电子 | 薄膜 | CSL晶界表征 |
| 地球科学 | 太阳能电池 | 再结晶或形变率 |
| 科研领域 | 地质 | 亚结构分析 |
| 半导体 | 相鉴定 | |
| 超导体 | 相分数和相分布 | |
| 冰 | 相变 | |
| 金属和陶瓷复合材料 | 断口分析 | |
| 骨头，牙齿 | 晶粒和相间的取向与取向差关系 |
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