中茂 Chroma 半导体/IC测试解决方案VLSI测试系统能精准的仿真逻辑IC复杂的电性讯号并快速判读测试结果，测试头(Test Head)的扩充功能更可执行多种测试程序并同时进行大量的并行测试(massive multisite)，提高单位时间产出量(throughput)； 另外，中茂 Chroma 半导体/IC测试解决方案客制化的测试机台可直接符合需求，取代昂贵的通用型测试机，确实达到降低测试成本的目标。 在IC后段制程中，分类机可配合多种不同封装类型的IC进行良劣分类，后端封装测试之后，中茂 Chroma 半导体/IC测试解决方案自动化系统功能测试机可迅速检测封装成品，以实际使用环境检测成品取代虚拟的测试环境，提供低成本之高涵盖率测试，大幅提高出货质量。长沙艾克赛普仪器设备有限公司是中茂 Chroma 在华中地区授权代理商，可提供样机和相关工程师上门演示沟通，以下是长沙艾克赛普仪器设备有限公司为您介绍中茂 Chroma 半导体/IC测试解决方案系列产品的详细介绍,如果您有任何问题或者需要相关资料，请随时联系：0731-84284278转801，邮箱：shawn.xiao@hncsw.net。
VLSI 测试系统
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Model 3380 VLSI 测试系统
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Cost Effective For Production
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100Mhz clock rate, 1024 I/O channels (Max to 1280 pins)
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Up to 1024 sites Parallel testing
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Various VI source
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Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI source
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Your Dream Platform for Various Types of Devices.
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Model 3380-P VLSI 测试系统
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Cost-effective VLSI Test System
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100Mhz clock rate, 512 I/O channels (Max to 576 pins)
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Up to 512 sites Parallel testing
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Various VI source
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Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O,ADDA,VI source
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Your Dream Platform for Various Types of Devices.
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Model 3380-D VLSI 测试系统
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Best Lab-tool engineering & production Tester
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100Mhz clock rate, 256 I/O channels
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Up to 256 sites Parallel testing
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Various VI source
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Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI source
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Your Dream Platform for Various Types of Devices
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Model 3360-P VLSI 测试系统
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Bridging Design To Production. The Best Lab Tool & Cost-effective VLSI Test System
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50 Mhz clock rate, 256 I/O channels
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Up to 32 sites Parallel testing
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Support ADDA, Mixed-signal , LCD …etc option card
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Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, UVI, HVREF …etc option Your Dream Platform for Various Types of Devices.
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Model 3360-D VLSI 测试系统
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The Best Lab Tool
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50 Mhz clock rate, 64 I/O channels
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Up to 8 sites Parallel testing
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Support full rang AC Inlet & Small footprint
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Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI option Your Dream Platform for Various Types of Devices.
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Model 3360 VLSI 测试系统
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Cost-effective VLSI Test System
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50 Mhz clock rate, 512 I/O channels (Max to 608 pins)
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Up to 64 sites Parallel testing
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Support HI-voltage VI & LCD option card
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Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI option
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Your Dream Platform for Various Types of Devices.
SoC 测试系统
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Model 3650-EX SoC/Analog Test System
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Cost effective & high parallel site Tester for Consumer SoC, Mixed-signal and Analog ICs.
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Application coverage: MCU w ADDA/Memory, Controller, PMIC, and all sorts of consumer
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Expandable platform with up to 1024 IO channels and 96 DPS
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50/100 MHz, 200 MHz (MUX) Test Rate
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Varieties of high density options include VI45, PVI100, HDADDA and MRX
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Model 3650 SoC 测试系统
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Cost effective & high throughput Tester for Consumer SoC, Mixed-signal and Analog ICs.
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Application coverage: MCU w ADDA/Memory, Controller, PMIC, and all sorts of consumer
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Expandable platform with up to 640 channels
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50/100 MHz, 200 MHz (MUX) Test Rate
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Varieties of high density options, ranging from analog, ADDA, mixed-signal, to TIA
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Model 3650-CX SoC 测试系统
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Versatile Compact Size IC Tester for Consumer SoC, Mixed-signal and Analog ICs.
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Application coverage: MCU w ADDA/Memory, Controller, PMIC, and all sorts of consumer
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Expandable platform with up to 256 channels
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50/100 MHz, 200 MHz (MUX) Test Rate
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Varieties of high density options, ranging from analog, ADDA, mixed-signal, to TIA
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Model 36010 可程控逻辑脚位?？?/font>
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100 MHz programmable pin electronic module designed for charactering and testing digital & mixed-signal IC
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100 MHz maximum test rate
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Scalable architecture to provide up to 64 pins
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Per Pin TMU, TMU, and level/timing setting
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32M vector memory, with scan support
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Model 36020 直流电源供应?？?/font>
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Programmable DUT power supply in a single slot 3U PXI module
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4 Channels in standard PXI 3U/PXIe-Hybird compatible bus type
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+5/-2V and +10V/-2V force ranges
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16-bits VF and 18-bits IM resolution
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6 selectable ranges from 5uA to 250mA, with ganged function support
IC测试分类机 (IC Test Handler)
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Model 3110 双用单站测试分类机
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运用 Pick & Place 技术, 将待测晶片由进料舱移至测试区，再依测试结果进行分类。不但适用于系统功能检测，也同时具备终端电性测试的能力。
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Model 3110-FT 三温测试分类机
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3110-FT为CHROMA全新开发，适用于Final test工 程产品特性及测试开发用途之Pick & Place测试分类机。
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可设定温度范围 -40℃~125℃
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适用于FT测试
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支援的晶片尺寸从 3x3 mm 到 45x45 mm
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Model 3111 桌上型單站測試分類機
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Chroma 3111迷你桌上型单站的自动化测试分类机适用于系统功能检测，也同时具备终端电性测 试的能力，系统支援各种不同类型的封装晶片，支援的晶片尺寸从 5x5mm 到 45x45mm。
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Model 3112 晶片测试分类机
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具备单头与多头之适合量产的PnP 自动化晶片测试分类机。
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Model 3160/3160-A 终端测试分类机
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适合量产、高产出且多平行测试站点的高速IC测试分类机。
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9Kpcs 产能
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可设定的待测物间距
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可侧边安装tester
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压阀式受测物防护机
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Model 3180 逻辑测试分类机
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3180是一款运用Pick & Place技术的量产型机台,适合高产出多测试站点的IC测试。节省了厂房空间,测 试时间和成本,3180创新的设计可提高生产力和生产效率?；膳渲米鞯フ? 双站, 四站或八站测试, 亦可升级作高温150 ℃测试.。
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具有八个平行测试站点
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支援的晶片尺寸从 3x3 mm 到50x50 mm
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温度测试范围从常温到高温150 ℃
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Model 3240 自动化系统功能测试机
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可供多组PCB level平行测试的大量生产机具。
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4-sites
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Model 3260 自动化系统功能测试机
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可供多组PCB level平行测试的大量生产机具。
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6-sites
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Model 3270 微型 IC 测试分类机
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适合 CMOS 影像感应元件(CIS : CMOS Image Sensor) 量产所需。
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Model 3280 SD Card 测试分类机
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采用创新的技术整合SD卡测试机与自动分类机的功能，并利用Test-In-Tray的技术来 达到大量平行测试的能力。
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Model 3813 触碰面板多点半自动测试机
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可靠的触碰面板测试机,适合数位式触碰面板与类比式触碰面板。
外观检查系统
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Model 7970 影像传感器检测系统
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Chroma 7970 影像感测器检测系统为一自动化载盘式外观检测系统，可检测影像感测器正反两面外观瑕疵。
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提供完整的影像感测器玻璃面与锡球面外观检测功能
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可大幅降低处理时间之定速连续取像功能
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已申请专利的多吸嘴吸取功能可增加整体检测速度
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先进的光源系统可适用于不同的瑕疵类型
