• <tr id="mgkci"></tr>
  • <tr id="mgkci"><input id="mgkci"></input></tr>
    <tr id="mgkci"><input id="mgkci"></input></tr>
  • <tr id="mgkci"></tr>
  • <tr id="mgkci"><code id="mgkci"></code></tr>
    关于我们

    湖南省长沙市车站北路湘域智慧南塔6楼

    安徽省合肥市高新技术产业开发区科学大道110号新材料园F9A号楼511室

    0731-84284278

    0731-84284278

    service@hncsw.net

    0731-84284278

    反射式在线膜厚测量仪 FTPadv inline NIR

    名称:涂镀层测厚仪

    品牌:

    型号:

    简介:FTPadv inline NIR 反射式在线膜厚测量仪FTP反射式在线膜厚测量仪,每个控制器可支持1-7个光学探头,内部具有参考样品。光谱范围420-2000nm, 可测量TCO薄膜的膜厚和片状电阻 厂商名称: SENTHCH 商品名称:...

    • 产品介绍

    FTPadv inline NIR 反射式在线膜厚测量仪FTP反射式在线膜厚测量仪,每个控制器可支持1-7个光学探头,内部具有参考样品。
    光谱范围420-2000nm, 可测量TCO薄膜的膜厚和片状电阻
    FTPadv inline NIR/uploads/allimg/110905/2-110Z5094246119.jpg

     厂商名称: SENTHCH
    商品名称: 反射式在线膜厚测量仪
    商品型号: FTPadv inline NIR

     
    Sensol –M
    大面积样品台 ,反射式测量R(λ)
    玻璃上TCOs薄膜的厚度
    吸收层膜厚
    iZnO, ZnO:Al, SnO,
    a-Si:H, μc-Si:H
    CIS 和 CIGS

    SenSol H
    水平扫描样品系统用于大玻璃平板
    •雾状
    •透射光谱T(λ) 和反射光谱R(λ)
    •方块电阻:非接触法
    •方块电阻:四探针
    •膜厚测量探头
    FTPadv inline NIR

    SenSol V
    垂直扫描系统
    •绒面
    •透射光谱T(λ) 和R(λ)
    •片状电阻Ω:光学法
    •片状电阻Ω:4探针
    •膜厚测量探头
    •Raman 拉曼
    •EQE
    •I-V
    FTPadv inline NIR
    FTPadv inline NIR
    FTPadv inline NIR
    FTPadv inline NIR

    联系电话

    0731-84284278

    在线留言

    关注我们

    TOP

    您好,欢迎访问艾克赛普

    想要进一步了解我们的产品和方案?

    我们7*24小时为您服务!

    电话咨询:0731-84284278

    稍后联系

    提交您的需求,我们将尽快与您联系

    完善您的信息,艾克赛普专业团队为您提供服务!

    请选择您要填写的表单类型 *

    获取产品报价

    获取方案详情

    申请技术服务

    公司名称 *

    姓名 *

    手机号 *

    邮箱

    需求描述 *

    验证码 *

    国产一卡2卡3卡四卡国色天香 <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <蜘蛛词>| <文本链> <文本链> <文本链> <文本链> <文本链> <文本链>