天瑞Skyray EDX8000L X荧光考古分析仪
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简介：天瑞Skyray EDX8000L X荧光考古分析仪利用中国历史博物馆和上海硅酸盐研究所两大古陶瓷研究检测的权威部门提供的标准陶瓷片样品为仪器标定基准标样，一次性同时分析古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K...
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天瑞Skyray EDX8000L X荧光考古分析仪利用中国历史博物馆和上海硅酸盐研究所两大古陶瓷研究检测的权威部门提供的标准陶瓷片样品为仪器标定基准标样，一次性同时分析古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化学成份含量，再对照中国古陶瓷数据库便可以达到断代断源的功效。同时，为了更好的利用X荧光分析仪器的无损测量特性，我公司根据行业需要制作超大型抽真空样品腔，以满足不同大小、器形的陶瓷样品的检测。天瑞Skyray EDX8000L X荧光考古分析仪在测试陶瓷的同时亦可以测试青铜器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、贵金属（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化学成份和金属镀层厚度，做到一机多用，是古文物检测必备的科学检测仪器。中国历史博物馆、中国收藏家协会等古文物收藏部门都是其用户。应用于古陶瓷、古青铜器、古首饰、镀层测厚。
以下是艾克赛普为您介绍天瑞Skyray EDX8000L X荧光考古分析仪的技术参数，如有相关问题，请联系长沙艾克赛普仪器仪表公司www.cafa100.cn，联系电话：0731-84284278 84284378。
型号：EDX8000L
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99%
同时分析元素：同时可以分析30种以上元素
测量镀层：镀层厚度测量最薄至0.01微米
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：30s—200s
管压：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
输入电压：AC 110V/220V
消耗功率：200W
环境温度: 15-26℃
相对湿度: ≤70%
天瑞Skyray EDX8000L X荧光考古分析仪的标准配置：超薄窗大面积的原装进口Fast SDD探测器；数字多道系统；可自动切换型准直器和滤光片；光路增强系统；内置高清晰摄像头；加强的金属元素感度分析器；智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。面光源放大；电路高低压电源；X光管；多变量非线性回归程序；相互独立的基体效应校正模型。三重安全?；つＪ?；外观尺寸： 800×710×1360 mm；样品腔尺寸：590×550×600mm；重量：280kg。
如果您需要天瑞Skyray EDX8000L X荧光考古分析仪及天瑞品牌仪器、或者其他品牌仪器，均可联络我司销售部门：0731-84284278 84284378。
