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    使用R&S FSW和SMW200A 进行卫星杂散测量

    2024-01-22

    在设计、验证和制造射频及微波设备时,有必要使用频谱分析仪搜索杂散。

    卫星应用中的发射机和接收机设备必须满足极其严苛的杂散限值。这就意味着要在宽频率范围内检测极低电平的杂散。一般情况下,需要使用窄分辨率带宽 (RBW) 以便在高灵敏度下进行测量,但这样一来,测量时间要长得多。即使采用配备 FFT 滤波器的快速频谱分析仪,杂散检测也可能花费数小时甚至数天。

    一种新型杂散检测算法可自动执行杂散测量并提高测量速度。

    R&S?FSW-K50 杂散测量应用可通过三步法检测并确定杂散。首先通过快速扫描测定最佳 RBW。然后进行二次扫描检测可能的杂散。每个已知杂散频率的最终高速搜索可确定峰值是实际杂散、噪声伪像还是分析仪内部杂散。最后一步,进一步降低 RBW 以满足信噪比要求。

    R&S?FSW-K50 杂散测量应用的测量流程

    1.频谱视图和噪声基底估算

    • 预计测量时间

    • 带最佳 RBW 的分段表格

    2.杂散检测

    • 杂散检测限值通过 / 失败

    • 初步杂散表格

    3.杂散点搜索

    • 通过 / 失败

    • 最终杂散表格

    • 优化的 RBW(如需)

    01

    宽范围杂散搜索的测量设置。在每个频率分段范围的均可配置参数。

    与传统的杂散测量应用相比,R&S?FSW-K50 具备多种优势:

    • 杂散检测速度比现有频谱分析仪快 30 倍,尤其是在低RBW 的情况下

    • 根据允许的杂散水平最大值和所需信噪比自动计算 RBW

    • 具备两种不同的测量模式:适用于未知杂散场景的宽范围检测,以及适用于特定频率的定向检测

    02

    杂散测量应用结果屏幕。

    03

    缩放杂散点搜索。降低杂散的 RBW 以减少噪声基底并满足用户设定的 SNR 要求,同时测定峰值是否为真正的杂散。

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