肖特基勢壘特性及雜質(zhì)測量實驗系統(tǒng)綜合測試實訓平臺
2023-10-25
適用課程
1.半導體器件原理
2.固體物理基礎
3.半導體材料基礎
4.電子薄膜材料與器件
實驗目的
1.掌握肖特基二極管的結構
2.掌握肖特基勢壘結的形成原理
3.掌握肖特基二極管的整流特性和勢壘電容
4.學會測量肖特基二極管的C-V特性
測量儀器設備
1.TH511E半導體器件CV特性分析儀
2.TH1992B精密源/測量單元
3.TH26011D直流偏置夾具
4.半導體元件實驗盒
5.學會計算雜質(zhì)濃度
最新資訊
